Mittels CT (Computertomographie: 3D) werden alle verborgenen Struktur- und selbst mikroskopisch kleinste Mängel innerhalb des Objekts visualisiert. Dank der einzigartigen schrägen CT-Technologie von SEC lassen sich stark vergrößerte CT-Aufnahmen selbst großer Muster anfertigen. Es ist allgemein bekannt, dass CT-Aufnahmen ab einer bestimmten Objektgröße gewissen Beschränkungen unterworfen sind. Dank der schrägen CT-Technologie spielt jedoch ab sofort die Größenbeschränkung keine Rolle mehr, weshalb sich Leiterplattenbestückungen, großformatige Mehrlagenschaltungen und selbst Halbleiterscheiben für diese Technik eignen. Die sogenannte digitale Volumentomographie (DVT) kommt in der Regel bei einer CT-Analyse elektronischer Komponenten zum Einsatz. Zur Analyse flacher und großer Komponenten, wie beispielsweise Leiterplatten, gelten für die DVT jedoch bestimmte Beschränkungen hinsichtlich der Generierung stark vergrößerter 3D-Bilder, was sich auf den großen Abstand zwischen Quelle und Objekt zurückführen lässt.
Einer der Kerntechnologien ist das Nano-Fokus-Röntgenprüfsystem (0,4 Mikrometer), mit dem die Kunden von SEC in der Lage sind, anhand ultrahochauflösender Bilder bestimmte Anwendungen zu überprüfen, wie beispielsweise zur Prüfung von Fehleranalysen bei elektronischen Komponenten, den Status einer Lötkugelballgröße oder Lücken und Brücken usw. Dies gilt insbesondere bei der Prüfung der Packaging von Halbleitern (WLP: Wafer Level Packaging), Kugeln sowie Lücken und der Überprüfung der Ausrichtung von Silizium-Durchkontaktierungen (2D oder 3D) und vielem mehr.
Die Kunden sind der Anfang und das Ende von allem, was SEC tut. Sie sind sich bewusst, was ihre Kunden brauchen, übertreffen deren Erwartungen in Bereichen, die ihnen am Herzen liegen, und ebnen ihnen so den Weg zum Erfolg.